描述
特性
- 分析1到50纳米的粒子
- SMPS系统的关键部件
应用程序
- 粒子大小
TSI 3086差分迁移率分析仪
作为我们1nm扫描迁移率颗粒粒度仪™(SMPS™)系统的关键组成部分，3086 1nm- dma模型具有优化的流动路径，减少扩散损失，并在1至50 nm粒径范围内提高尺寸分辨率。设计用于静电分级机3082和纳米增强剂凝聚粒子计数器3757。
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